SiC optical nano-strain-meters for pico-detection in Geosciences

Il progetto

Il progetto SiC Nano for PicoGeo, finanziato dallo schema Future and Emerging Technologies (FET) di Horizon 2020, mira a superare le limitazioni degli attuali strumenti utilizzati nelle geoscienze e nel monitoraggio dei rischi geologici. I terremoti e le eruzioni vulcaniche sono una delle principali preoccupazioni per la nostra società, in quanto rappresentano un rischio per la sicurezza delle persone e generano considerevoli perdite finanziarie a causa dei danni causati alle infrastrutture. Il monitoraggio dei rischi geologici richiede tecniche di osservazione diverse e misure con una risoluzione più elevata di quelle attualmente disponibile.

Consapevole di questa sfida, SiC Nano for PicoGeo – coordinato dall’Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi del Consiglio Italiano delle Ricerche – svilupperà una tecnologia di misura delle deformazioni dinamiche del terreno radicalmente nuova, con una risoluzione ultra-elevata di 10-12, cioè circa due ordini di grandezza maggiori rispetto alla tecnologia attualmente disponibile. La ricerca combina il materiale 3C-SiC ad alte prestazioni con un elevato modulo di Young (quasi tre volte superiore a quello del silicio), che migliora l’attuale risoluzione del sensore di deformazione, tramite laser a fibre per nuove operazioni con risonatori ad anello chiuso completamente ottici.
Questo design consente di effettuare una lettura elettronica anche in lontananza dal foro di trivellazione, con evidenti vantaggi di accessibilità.

Il team di esperti europei provenienti da Italia, Germania, Francia e Belgio è impegnato nello sviluppo di un nuovo dispositivo che sarà installato nei fori profondi e sarà testato in condizioni reali sull’Etna, il vulcano più attivo d’Europa, per perfezionare il design dell’estensimetro e l’elettronica di alta qualità.

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